W-Cu/AlN复合材料XRD分析

XRD(X-ray Diffraction)X射线衍射,其通过对材料进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。X射线是一种波长很短(约为20~0.06埃)的电磁波,能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线,称为特征(或标识)X射线。

而通过对比热压烧结W-Cu和W-Cu/AlN烧结体得到的XRD图谱,可以看出热压烧结后W、Cu衍射峰强度明显升高、宽度变窄,这就说明了在烧结过程中W和Cu都发生了晶粒长大现象。在相同条件下烧结后,添加了纳米AlN颗粒的烧结体中W、Cu的衍射峰强度,低于未添加AlN颗粒的烧结体,其原因是纳米AlN颗粒在烧结过程中有效地抑制了W和Cu晶粒的长大。因此,纳米AlN的添加进一步保证了W-Cu复合材料的纳米结构特征,有效地降低了烧结后复合材料的晶粒尺寸。

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