W-Cu / Аналіз дыфракцыі рэнтгенаўскіх прамянёў AlN Кампазітны
РДА (дыфракцыя рэнтгенаўскіх прамянёў), можна атрымаць змест, структуру або форму ўнутранага атама або малекулы шляхам аналізу спектру. Рэнтгенаўскі з'яўляецца вельмі кароткай даўжынёй хвалі (каля 20 ~ 0,06 ангстрэм) электрамагнітных хваляў, можа пранікаць пэўную таўшчыню матэрыялу, і можа зрабіць флуоресцентные рэчывы, фатаграфічную эмульсію святлоадчувальным, іянізацыі газу. У рэнтгенаўскіх промнях, генераваных электронна-прамянёвай бамбаванне металу «мішэнь», рэнтгенаўскія прамяні, якія маюць пэўныя даўжыні хваль, якія адпавядаюць розныя элементы ў мішэні, называецца характэрнымі (або ідэнтыфікавалі) рэнтгенаўскімі прамянямі.
У параўнанні з XRD спектрам W-Cu і W-Cu / AlN пасля гарачага прэсавання спяканне, мы можам выявілі, што W, Cu інтэнсіўнасць дыфракцыйнай піка была значна павялічана, шырыня звужаецца, што паказвае на W і Cu часціц расце ў працэсе спякання , Пасля спякання пры тых жа ўмовах, дыфракцыйнай пік інтэнсіўнасці W і Cu ў спеченный целе з даданнем нана-AlN часціц ніжэй, чым у спеченный цела без дадання часціцы AlN. Гэта прычына таго, што Nano часціцы крышталічнага AlN могуць эфектыўна інгібіраваць рост W і Cu зерняў падчас спякання. Такім чынам, нана AlN, могуць дадаткова спрыяць структуру, характэрную для W-Cu кампазітных матэрыялаў і эфектыўна паменшыць памер часціц з дапамогай рентгенофазового аналізу.
Любая зваротная сувязь або запыт з вальфраму медных сплаваў, калі ласка, не саромейцеся звяртацца да нас:
Email: sales@chinatungsten.com
Tel.: +86 592 512 9696 ; +86 592 512 9595
Fax.: +86 592 512 9797
дадатковая інфармацыя：
вальфрам Медзь Вальфрам Медны сплаў